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絕緣體積表面電阻率裝置在測(cè)試大電容器件（如大型電纜）時(shí)，為了防止電容電流對(duì)儀表的沖擊，在ZC-90G中設(shè)置了“保護(hù)—測(cè)量”選擇按鈕（22），其用法如下：在測(cè)量開(kāi)始之前，按一下“保護(hù)—測(cè)量”選擇按鈕， “保護(hù)”狀態(tài)指示燈（23）亮，儀表進(jìn)入輸入端短路的保護(hù)狀態(tài)，然后再接通測(cè)量回路，在測(cè)量開(kāi)始后十秒左右，大電流充電已基本完成，再按一下“保護(hù)—測(cè)量”選擇按鈕， “保護(hù)”狀態(tài)指示燈滅，儀表進(jìn)入正常測(cè)量狀態(tài)

四探針?lè)阶桦娮杪蕶z測(cè)儀適用于企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償，并帶有溫度補(bǔ)償功能，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；采用AD芯片控制，恒流輸出。

四探針半導(dǎo)體電阻率測(cè)量?jī)x參照標(biāo)準(zhǔn)： 1.硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）. 2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》. 3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā? 4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?

雙電四探針電阻測(cè)試儀符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。

絕緣涂層表面體積電阻率測(cè)試儀顯示迅速、穩(wěn)定性好、讀數(shù)方便, 適用于防靜電產(chǎn)品如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值的檢驗(yàn)以及絕緣材料和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器除能測(cè)電阻外，還能直接測(cè)量電流如電子器件暗電流等。